電感耦合等離子體光譜法測定硅烷偶聯(lián)劑中硫含量
整理時間:2012-11-07 熱度:1679
1 前 言 SD40硅烷偶聯(lián)劑是橡膠的主要添加劑,其中硫含量的多少對輪胎的各項性能如耐磨性、抗熱、抗老化性等都起著至關重要的作用。因此準確、快速測定硫含量顯得尤為重要硫含量的測定方法在我們的前期工作中已有介紹,并對用硫酸鋇重量法測定SD40硅烷偶聯(lián)劑中的硫進行過著重研究[1]。但重量法操作復雜,損耗試劑多,分析流程長,費時費力。而ICP全譜直讀光譜儀兼具原子吸收和發(fā)射光譜的優(yōu)點,精密度高,測定范圍寬,快速準確。文獻中已有用ICP AES法測定硫的報導[2~5],但用于測定橡膠助劑,特別是硅烷偶聯(lián)劑中的硫還未見報導。我們用ICP光譜儀對SD40硅烷偶聯(lián)劑中硫含量的測定進行了研究。 2 實驗部分 2.1 儀器與試劑 2.1.1 儀器等離子體光譜儀:IRISAdvantage,美國ThermoJarrellAsh公司生產。主要部件含中階梯光柵,電荷注入檢測器(CID),玻璃同心霧化器,旋流霧化室。ThermoSpec/CID分析軟件的計算機及HP激光打印機。 2.1.2 試劑硝酸、高氯酸(均為優(yōu)級純);硫酸鈉(優(yōu)級純)實驗用水為去離子水。 2.2 工作條件見表1。 2.3 標準溶液的制備標準儲備液:準確稱取4.4300g干燥恒重的優(yōu)級純硫酸鈉,溶于少量的去離子水中,移入1000mL容量瓶中,用水稀釋至刻度,搖勻。此溶液硫的濃度為1000mg/L。臨用前用二次去離子水逐級稀釋。低標溶液:5%的硝酸溶液。高標溶液:用硫標準儲備液配制成含硫100μg/mL,200μg/mL,300μg/mL,400μg/mL,500μg/mL的5%硝酸溶液。 2.4 樣品的處理稱取0 5000g樣品于500mL玻璃燒杯中,用少量水濕潤后,加入30mL硝酸搖動,待劇烈反應結束后置電熱板上低溫加熱到黃煙冒盡,高溫加熱至溶液清亮,取下稍冷,轉入500mL的容量瓶中定溶。同時做空白試驗。 3 結果與討論 3.1 分析元素的譜線及標準曲線儀器的CID檢測器使用的波長范圍為170~900nm,在該范圍內,可供選用硫的靈敏線是180.734nm和182.034nm。據文獻[6]及本實驗所用等離子體光譜儀所附資料庫信息,180.734nm的硫譜線附近有鈣(180.70nm)、錳(180.717nm)和鐵(180.78nm)的譜線,會造成干擾。但從試樣預先掃描檢查得知,試樣中這些元素含量很低,實際不會干擾測定。而我們實測得知182.034nm(級數184)的譜線讀數值最大,另外182.034nm譜線附近無干擾線,故選用82.034nm(中階梯光柵的光譜級數為184)譜線為分析線,并繪制了標準曲線,結果見表2。 3.2 溶液的酸度試樣處理必須使用硝酸,測定液的酸度大約為5%。分別用1%、5%、10%、15%和20%酸度的硝酸配置標準溶液。測定結果表明,隨著酸度的增大,測定元素的強度略有下降,但在1%~10%的酸度范圍內,這種影響可以忽略。 3.3 基體的影響SD40硅烷偶聯(lián)劑中含有大量的硅,通過硝酸對有機物的分解,硅全部溶解在溶液中。通過譜線分析得知,182.034nm譜線不受硅干擾。另外,對樣品進行除硅和不除硅測定試驗,結果顯示硅的存在與否對硫的測定無影響。 3.4 精密度試驗和對比實驗我們將同一樣品用ICP AES法(除硅和不除硅兩法)和硫酸鋇重量法同時測定,實驗結果見表3。 由上表我們可以看出,用ICP AES法測定硫,除硅和不除硅其結果基本一致。他們與重量法的結果對比,相對標準偏差(RSD)均小于0 5%,滿足測定允差要求。 4 結 語 用帶有CID檢測器的等離子體光譜儀可以準確、快速測定SD40硅烷偶聯(lián)劑中的硫含量,此方法有良好的精密度和準確性,是值得推薦的有效測試方法。在測定時,硫在短波長180nm區(qū)域會受到氧吸收帶的嚴重干擾,因此除了嚴格遵守試驗條件和通常分析工作要求外,還必須保證有足夠的通氬氣時間,以確保除氧完全。否則會導致測定硫的結果偏低,且重現性不好。 |
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